均勻性測試應用軟體

廠牌名稱: Westboro Photonics

對需要在多個位置進行測量的生產應用進行快速，簡便和可重複的測量。
自動對齊測試區域，識別並報告Cx，Cy，u'，v'和亮度均勻性值。

型號 : PKG-Uniformity

亮度和色度均勻性是顯示器和背光的兩個最重要的特徵。

通常使用顯示區域中的固定測試位置網格來測量均勻性。

作為Uniformity Spots Package用戶，請遵循以下簡化流程：

• 定義簡單或複雜的感興趣區域（AOI）陣列

• 自動將先前創建的AOI應用於測量; 和計算一致性指標

該軟體為每次測量重新註冊AOI陣列，無需高度精確的夾具。

支持矩形和不規則形狀的顯示器。

型號 : PKG-Display

型號 : MCIC

型號 : Graphic Testing

型號 : WP214

型號 : PKG-Styling Line

型號 : PKG-Beam Pattern